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當前位置：梅特勒托利多 METTLER TOLEDO>>實驗室天平>>分析天平>> MX205DU分析天平MX 分析天平
MX205分析天平快速準確地稱量
高分辨率稱重傳感器可提供準確可靠的結果，讀數精度低至 0.01 mg。使用 SmartPan，即使在動蕩的環境中，天平也能快速穩定，從而實現更快速、更高效的稱量。
MX205分析天平GxP 合規性支持
自動數據記錄和用戶管理選項可幫助符合 GxP 準則。將數據傳輸至打印機或計算機，實現完整無誤的文檔記錄。
MX205分析天平創新的工程設計
智能功能提供符合人體工程學的輕松稱量體驗，尤其適用于長時間或重復性任務：StatusLight 可即時確認天平 狀態，背光防風罩提供高可見性， ErgoDoors 讓稱量更加方便。
MX205分析天平可持續的設計
優質材料和堅固的結構確保天平使用 壽命長久，總體擁有成本低。MX 天平在設計時考慮了可持續性，包括省電模式，操作高效且經濟。
| MX205DU | |
| 最大秤量（全量程/精細量程） | 220 g/ 82 g |
| 可讀性 | 0.1 mg/ 0.01 mg |
| 重復性（5%載荷下） | 0.0125 mg |
| 靈敏度偏移（標稱加載下） | 0.5 mg |
| 穩定時間 | 2s |
| 最小稱量值（USP，允差 = 0.10%） | 25mg |
